无局放串联谐振试验装置局放量过高有什么因素

　　无局放串联谐振试验装置局放量过高有以下几个主要因素:
 

　　一是电路设计不合理。串联谐振试验装置的电路设计如果不合理,例如组成电路的元器件选择不当或电路连接方式不当,都可能导致电路内部产生较高的杂散电流或电磁干扰,从而增加试验装置的局放量。

　　二是元器件选择不当。选择的元器件类型或型号不合适,例如晶体管的杂散电流过大,或者线圈或者电容器本身具有较高的损耗,都会增加试验装置的总功率损耗,造成较高的局放。

　　三是电磁屏蔽不佳。试验装置在设计和制作时,没有很好地对各组成部分进行电磁屏蔽,导致各部分之间存在较强的电磁干扰,增加了系统的总局放量。

　　四是接地和屏蔽处理不当。试验装置在安装和使用时没有完善地对接地和屏蔽进行处理,导致产生较多的电磁波干扰现象,从而增加了试验装置的总局放量。

　　五是环境条件影响。试验室内存在较强的电磁干扰源,或者试验过程中电源质量较差,也会通过耦合等方式增加试验装置本身的局放量。

　　以上几点原因,如果能进行针对性优化,就可以有效降低无局放串联谐振试验装置的总局放量,从而提高试验质量和准确性。